| 日 時： | 平成29年1月23日(月) 10:30～16:45 |
| 会 場： | 東京工業大学 大岡山キャンパス 西9号館コラボレーションルーム [東京都目黒区大岡山2-12-1] |
| 交 通： | 東急大井町線・目黒線 大岡山駅 徒歩１分 （地図：http://www.titech.ac.jp/maps/index.html） |
| 主 催： | 日本塑性加工学会 (実行：ナノ･マイクロ分科会) |
| 協 催： | 日本機械学会，精密工学会，日本金属学会，日本鉄鋼協会，日本金属プレス工業協会 |
| 趣 旨： | ものづくりにおける測定は加工結果を検証する上で極めて重要です．表面の粗さや形状，結晶状態などをナノメートルからマイクロメートルの精度で測定が可能な，高精度測定機器が実用化されています．これまでに“表面”をテーマとして高精度な測定器の原理や特徴を学ぶ機会は少ないのが実情でした．本セミナーでは最新機器の基本的な測定原理を学び，実際の測定事例や測定機器選択のポイントの解説から正確な測定を行うための基礎知識の習得を目的とします． |
| プログラム： | 開会の辞 | (10:30～10:35) | 日本塑性加工学会 企画委員長 | 前田 恭志君 |
| 司 会 ㈱小松精機工作所 | 白鳥 智美君 |
| 時 間 | 内 容 | 講 師 |
| 10:35～11:55 | 分析装置の基礎および事例紹介：「機械屋のための分析装置ガイドブック」（コロナ社）に基づき，分析装置（方法）の基礎を解説し，塑性加工の研究への適用事例を紹介する． | 東京工業大学 吉野 雅彦君 |
| 11:55～13:00 | 昼 食 | |
| 13:00～13:40 | 光学式非接触表面形状測定の基礎：白色干渉式非接触形状測定の原理を解説し，正確な測定を行うための測定条件，試料状態等を解説する．これまでの測定事例や応用例を交え，測定システムへの展開を紹介する． | キヤノンマーケティングジャパン㈱ 中村 浩希君 |
| 13:40～14:20 | 走査型プローブ顕微鏡測定の基礎：走査型プローブ顕微鏡の測定可能範囲と測定原理を解説する．形状と物性の同時評価や加熱冷却，真空などの測定環境への対応等，測定事例を紹介する． | ㈱日立ハイテクサイエンス 桒原 順治君 |
| 14:20～15:00 | 接触式表面形状測定の基礎：触針走査方式を採用した超高精度形状測定の測定原理と測定機構および測定精度について解説する．非球面測定例や金型の微細穴測定事例，クリアランス測定例を紹介し，触針式測定の効果を述べる． | パナソニックプロダクションエンジニアリング(株) 竹内 博之君 |
| 15:00～15:15 | 休 憩 | |
| 15:15～15:55 | 電子顕微鏡観察の基礎：電子顕微鏡の原理と構造を述べる．正確な測定に向けた測定条件の選択ポイントとして，加速電圧や絞りなどの条件設定方法を解説する． | ㈱日立ハイテクノロジーズ 宮木 充史君 |
| 15:55～16:45 | EBSD（Electron Back Scatter Diffraction）を用いた結晶方位および結晶相解析の基礎：菊池パターンによる結晶方位解析の原理から，測定データを応用した結晶方位マップ，結晶相マップ等の測定事例を紹介する．最新のその場観察による結晶方位差や変態解析の事例を交え，今後の展開について述べる． | TSLソリューションズ㈱ 鈴木 清一君 |
| 定 員： | 60名（定員になり次第締切ります．） |
| テキスト： | 「機械屋のための分析装置ガイドブック」（コロナ社）を使用します．当日会場で販売を致します（3,200円（税込み））．参加費とは別にテキスト代が必要です．既に本をお持ちの方は，当日に持ち込みをお願い致します． |
| 申込方法： | 本ページ右上の，「参加申し込み」よりお申し込みください． ・web 上の参加申し込みは，1月16日に締め切りますので，締め切り後は当日受付にてお申し込みください． なお，定員超過の場合は，締め切り日前に受付終了となることがございますので，ご了承ください． ・開催日の3週間前位から請求書・参加券をお送りします．5営業日前までに届かない場合は事務局へご連絡ください． ・キャンセルは1月18日まで受付いたします． ・キャンセルは電話では受け付けておりません．問い合わせフォーム（本部企画行事関係）より，キャンセルの旨と行事名，申込番号，参加者名をお知らせください． |
| 注 意： | 講演中の撮影・録音は禁止いたします． |